CVE-2018-11279

highPriorität · verfolgen · 35EPSS 0.005 · 44. PerzentilEURUUS
grimoire priorityP2 · Scheduled
Exploitable?
—
no known exploitation
Likely / severe?
0.51% (44th) EPSS
CVSS 8.3 · high
Is it mine?
49 products
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4 sources
cnnvd · enisa_euvd · fstec_bdu · nvd

EPSS · bewertet 2026-10-27

Lack of check of input size can make device memory get corrupted because of buffer overflow in snapdragon automobile, snapdragon mobile and snapdragon wear in versions MDM9206, MDM9607, MDM9615, MDM9625, MDM9635M, MDM9640, MDM9645, MDM9650, MDM9655, MSM8909W, MSM8996AU, SD 210/SD 212/SD 205, SD 410/12, SD 425, SD 427, SD 430, SD 435, SD 439 / SD 429, SD 450, SD 615/16/SD 415, SD 625, SD 636, SD 650/52, SD 712 / SD 710 / SD 670, SD 810, SD 820, SD 820A, SD 835, SD 845 / SD 850, SDA660, SDM439, SDM630, SDM660, SDX20, Snapdragon_High_Med_2016, SXR1130

01

cvss

Technischer Schweregrad, 0–10. Eine Zeile je Quelle.

9.3
010

Basiswert 0–10 · höher = schwerwiegender · Vektor überfahren zum Auflösen⚠ Quellen uneinig · high–critical · 8.1–9.3

v2.08.3highAV:A/AC:L/Au:N/C:C/I:C/A:Cprimary · NVD / NIST USAusnutzbarkeit 6.5 · Auswirkung 10
v3.08.8highCVSS:3.0/AV:A/AC:L/PR:N/UI:N/S:U/C:H/I:H/A:Hprimary · NVD / NIST USAusnutzbarkeit 2.8 · Auswirkung 5.9
v3.08.1highCVSS:3.0/AV:A/AC:L/PR:N/UI:N/S:U/C:H/I:H/A:H/E:Usecondary · CVSS-BT (t0sche)
v3.19.3criticalAV:L/AC:L/PR:N/UI:N/S:C/C:H/I:H/A:Hsecondary · FSTEC (BDU) RU
02

schwächen

Die CWE-Schwächeklassen, zu denen dies gehört.

03

betroffene Produkte (49)

Betroffene Produkte und Versionsbereiche.

20 von 49 angezeigt
04

auch bekannt als (4)

Weitere Namen und Kennungen dieser Entität.

05

quellen

Welche Quellen diesen Datensatz belegen und wann.

veröffentlicht 2019-01-18geändert 2026-06-17
07

Referenzen (10)

Externe Belege — Patches, Meldungen, Analysen.

scry

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