samsung exynos auto t5123 firmware

ProduktUS

cpe:2.3:o:samsung:exynos_auto_t5123_firmware:*:*:*:*:*:*:*:*

Ein im Bedrohungsgraphen erfasstes Produkt; die Schwachstellen unten betreffen es bekanntermaßen.

0
KEV-gelistet
0
öffentlicher Exploit
nach Schweregrad
9critical11high1medium0low
aktualisiert 2026-10-27
01

Schwachstellen (21)

Zugehörige CVEs.

IDSchweregrad ausnutzbar
CVE-2023-24033UScritical9.8—
CVE-2023-26496UScritical9.8—
CVE-2023-26498UScritical9.8—
CVE-2023-26497UScritical9.8—
CVE-2023-26073UScritical9.8—
CVE-2023-26072UScritical9.8—
CVE-2023-26074UScritical9.8—
CVE-2023-26075UScritical9.8—
CVE-2023-26076UScritical9.8—
CVE-2023-29091UShigh7.5—
CVE-2023-29087UShigh7.5—
CVE-2023-29086UShigh7.5—
CVE-2023-29085UShigh7.5—
CVE-2023-29090UShigh7.5—
CVE-2023-29089UShigh7.5—
CVE-2023-29088UShigh7.5—
CVE-2023-41112UShigh7.5—
CVE-2023-41111UShigh7.5—
CVE-2023-37368UShigh7.5—
CVE-2023-37367USmedium5.3OT erhöht—
CVE-2024-29152UShigh7.5—
02

Schwächen (8)

Die Schwächeklassen (CWEs), die die meisten dieser CVEs teilen.

  • CWE-787Out-of-bounds Write13 CVEs
  • CWE-120Buffer Copy without Checking Size of Input ('Classic Buffer Overflow')3 CVEs
  • CWE-1173Improper Use of Validation Framework1 CVEs
  • CWE-119Improper Restriction of Operations within the Bounds of a Memory Buffer1 CVEs
  • CWE-125Out-of-bounds Read1 CVEs
  • CWE-20Improper Input Validation1 CVEs
  • CWE-200Exposure of Sensitive Information to an Unauthorized Actor1 CVEs
  • CWE-476NULL Pointer Dereference1 CVEs
03

Datenquellen (1)

Welche Quellen diesen Datensatz belegen und wann.

scry

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